表面分析（纳米级表层分析）

XPS X射线光电子能谱

检测原理：X射线轰击样品表面，激发光电子，检测光电子动能，获得表面元素种类、原子百分比、化学价态信息，分析深度仅几个纳米。

核心能力：表面元素价态、氧化层分析、表面官能团、表面污染、深度剖析。

适用样品：各类固体平整表面；适合表面极薄层分析。

典型应用：表面氧化腐蚀分析、粘接失效界面分析、表面改性效果评估、微量表面污染分析。

TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱

检测原理：脉冲离子束轰击样品表面，溅射出二次离子，根据离子飞行时间区分质荷比，获取表面分子离子信息，可做正负离子谱图、深度剖析。

核心能力：表面有机分子识别、PDMS硅氧烷污染、痕量表面污染物、分子层面界面分析。

适用样品：固体平整表面、薄膜、涂层。

典型应用：硅氧烷污染排查、界面失效、表面有机污染物溯源、薄膜分层深度剖析。

粗糙度/轮廓仪测试

检测原理：探针扫描样品表面，记录表面轮廓轨迹，计算粗糙度参数Ra、Rz等。

核心能力：表面粗糙度、轮廓曲线、台阶高度、薄膜厚度测量。

适用样品：金属、塑料、涂层固体表面。

典型应用：喷涂、粘接前表面粗糙度评估、精密零部件表面质量验证。

达因测试（达因笔）

检测原理：不同表面张力的测试液在材料表面铺展收缩状态，判定材料表面张力。

核心能力：评估材料表面润湿能力。

适用样品：塑料、薄膜、涂层、金属基材。

典型应用：粘接、喷涂前表面处理效果评估。