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热机械分析仪 (TMA)

2023-07-11 一、项目介绍：热机械分析仪是一种分析仪，是指在程序温度下和非震动载荷作用下，测量物质的形变与温度时间等函数关系的一种技术，主要测量物质的膨胀系数和相转变温度等参数1、工作原理TMA技术用于测量固体（包括园片、薄膜、粒状、纤维）液体和凝胶在力作用下的形变性能常用的负荷方式有压缩、针入、拉伸、弯曲等探头由固

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热重分析仪 (TGA)

2023-07-11 一、项目介绍：热重分析仪（Thermal Gravimetric Analyzer）是一种利用热重法检测物质温度-质量变化关系的仪器。热重法是在程序控温下，测量物质的质量随温度（或时间）的变化关系。当被测物质在加热过程中有升华、汽化、分解出气体或失去结晶水时，被测的物质质量就会发生变化。这时热重曲线就不是直线而是有所下降。通过分

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差示扫描量热分析仪 (DSC)

2023-07-11 一、项目介绍：DSC差示扫描量热仪是一种用于纺织科学技术领域的分析仪器1、技术指标温度控制温度范围：（-90～550）℃ 温度准确度：±0.1 ℃ 温度精确度±0.01 ℃ 最高升温速率：200°C/min 机械制冷装置：采用两步闭环蒸发冷却系统，冷却头置于DSC炉室上，能消除低温结霜现象，用于快速降温，加热，程控降温或自动升降温循

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动态热机械分析仪 (DMA)

2023-07-11 一、项目介绍：动态热机械分析仪，发展到第六代，是一种工业上用测量仪器1、特点1、测试过程中，可以跟据需要任意修改测试条件。可与红外光谱测试仪及湿气控制装置联用；2、全套形变方式：三点或四点弯曲、单/双悬臂、拉伸压缩及剪切；3、各种不同型号夹具，使试样尺寸可大可小。有自动上样品测试装置；4、测试模式全并具有

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傅立叶变换红外光谱仪 (FTIR)

2023-07-11 一、项目介绍：傅氏变换红外光谱仪(Fourier Transform infrared spectroscopy，简称FTIR )，是一种用于获得固体、液体或气体的吸收或者发射的红外光谱的技术，测量一个样品再每个波长下吸收多少光。广泛应用于塑料、橡胶弹性体、纤维、涂层、填料等众多高分子及无机非金属材料的定性与定量分析。鉴定有机化合物，了解分析结

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白光干涉仪 (WLI)

2023-07-11 一、项目介绍：1、原理：干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物

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原子力显微镜 (AFM)

2023-07-11 一、项目介绍Introduction：原子力显微镜（AFM）是一种具有极好的垂直分辨率（亚纳米）的扫描探针显微镜。它是研究表面拓扑和表面粗糙度值的强大工具。通过隧道式AFM（TUNA）和纳米压痕的应用模块，可以测量电气和机械性能。二、分析指标Specifications垂直分辨率0.1nm最佳横向分辨率7nm最大扫描

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X光绕射分析 (XRD)

2023-07-11 一、项目介绍XRD全称XRD全称X射线衍射（X-Ray Diffraction），利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，也可以观察晶体内部是否存在位错或晶格缺陷等。其中XRD使用的X射线是一种波长很短的电磁波（20~0.06埃），它通常是由于高能电子束

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二次离子质谱分析仪 (SIMS)

2023-07-11 一、项目介绍：飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量，具有极高分辨率的测量技术。可以广泛应用于物理，化学，

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X 光光电子能谱仪 (XPS/ESCA)

2023-07-11 一、项目介绍：X射线光电子能谱仪利用X射线激发材料表面以下1纳米到10纳米范围内所逸出光电子的结合能及数量，从而得到X射线光电子能谱来测定样品中的元素构成及元素化学态和电子态。借助于离子束的剥蚀，X射线光电子能谱还能实现深度剖析，并广泛应用于薄膜各层及界面分析。全自动化分析，可以轻松地对绝缘样品达到

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